光束質量分析儀和大功率光束分析
2022-09-01
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大功率光束分析
完善的產品系列，用于檢測材料加工中所用的大功率激光光束。
光束分析儀 HP 探測器系列在線測量光束輪廓和絕對功率。
在激光打印技術中測量 M2 和束腰的精確位置。
測量 5 微米至 9 毫米的大功率光束。
光束分析儀系列
完整系列的光束質量分析儀提供諸如刀口掃描和層析光束重建等技術，結合前所未有的寬 光譜范圍，單個探測器即可探測 200 – 1600 nm 甚至到 2700 nm 的光束。
0.5 微米以下到 45 毫米光束均可探測，配備全套附件（未顯示），可用于 M2 測量及其 他尖端用途。
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